GA300系列 NV(SA)64E

• 64x 同测对象(DUT)
• 支持NVMe(PCIe Gen3,Gen4,Gen5)，SATA/SAS(不同机台型号)

• 支持多种接口规格 AIC、U.2、M.2、SATA/SAS和EDSFF

• 独立脚本控制- 支持每个slot独立运行
• 完整的log记录- 提供完整的Scripts Log、Kernel log 和 Serial Port log支持FA debug

• 实时监控—实时刷新Scripts og 和测试步示，统计测试状态和相应数量,监控温湿度变化，同时获取slot的实时电压和电流
• 精确的热一致性

※集成高精确性的可程式化温箱，独立的设备电源控制，配合可扩展的测试用例用于消费级，企业级SSD
※控温范围:-40°C~100°C
※温度偏差 : 温度偏差2°C( 空载 )，温度偏差<4C( 满载30W )

• 宽湿度老化加速环境

※湿度范围 : +20%RH@60°C to +60%RH@20°C to +90%RH@85°C

• UART- 每个Socket支持独立串门debug

• 电压测试- <1%误差，支持低功耗状态

• 电流测试-<2% 误差支持低功耗状态

• 支持开卡(FW download)

• 支持老化测试BIST(Built-in Self Test)

• 支持NVMe-MI接口的带外管理(SMbus),实时获取测试信息及监控

• 支持工程/研发/量产测试(Function Test),丰富的FT测试用例库

※可根据用户需求定制测试 支持NVMe/SATA 协议命令拓展(包含VU 命令)